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產品價格:010-51663382
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 2.5次元影像測量儀
 
設備名稱2.5次元影像測量儀
產品類別三坐標,量具,量儀 - 三坐標測量儀 - 影像測量儀
產品參數2.5次元,
產品品牌其他
產品概述2.5次元影像測量儀適用于以二維測量為目的一切應用領域。在機械、電子、鐘表、塑膠、模具等行業被廣泛使用。
生產企業東莞市源興光學儀器有限公司廈門服務部
 詳細介紹
 

儀器用途:

該儀器適用于以二維測量為目的一切應用領域。在機械、電子、鐘表、塑膠、模具等行業被廣泛使用。

儀器特點:

強大的YR-C3T-T測量軟件,可實現所有二維平面測量功能,還具備拍地圖、產品輪廓掃描、專業SPC統計、手動CNC、宏測量等功能。自帶“RENISHAW”測頭可實現部分三維尺寸接觸式測量。

儀器型號 YVM-3020T YVM-4030T YVM-5040T
量測行程 300*200*220mm(X.Y.Z) 400*300*220mm(X.Y.Z) 500*400*220mm(X.Y.Z)
X.Y.Z最小顯示值 0.0005mm
測量精度 X.Y Axis:(3+L/200)μm
重復精度 3μm
影像放大倍率 24~156X(可擴展至12~312X)
測量方式 影像式+探針
CCD 43萬像素彩色高清晰度攝影機(SONY芯片)
鏡頭 高清晰度0.7~4.5Xzoom光變焦鏡頭
測頭 英國RENISHAW MCP10 ¢2mm測頭
工作距離 115mm(影像)
電腦 品牌電腦
測量軟體 YR-C3T-T
儀器基座 000級高穩定性花崗石底座
照明 上、下光源均采用可調亮度LED無影燈
外觀尺寸 700*650*950mm 980*750*950mm 1050*800*950mm
儀器重量 180KG 300KG 500KG

儀器用途:

該儀器適用于以二維測量為目的一切應用領域。在機械、電子、鐘表、塑膠、模具等行業被廣泛使用。

儀器特點:

強大的YR-C3T-T測量軟件,可實現所有二維平面測量功能,還具備拍地圖、產品輪廓掃描、專業SPC統計、手動CNC、宏測量等功能。自帶“RENISHAW”測頭可實現部分三維尺寸接觸式測量。
規格參數:

  儀器型號 YVM-3020T YVM-4030T YVM-5040T
量測行程 300*200*220mm(X.Y.Z) 400*300*220mm(X.Y.Z) 500*400*220mm(X.Y.Z)
X.Y.Z最小顯示值 0.0005mm
測量精度 X.Y Axis:(3+L/200)μm
重復精度 3μm
影像放大倍率 24~156X(可擴展至12~312X)
測量方式 影像式+探針
CCD 43萬像素彩色高清晰度攝影機(SONY芯片)
鏡頭 高清晰度0.7~4.5Xzoom光變焦鏡頭
測頭 英國RENISHAW MCP10 ¢2mm測頭
工作距離 115mm(影像)
電腦 品牌電腦
測量軟體 YR-C3T-T
儀器基座 000級高穩定性花崗石底座
照明 上、下光源均采用可調亮度LED無影燈
外觀尺寸 700*650*950mm 980*750*950mm 1050*800*950mm
儀器重量 180KG 300KG 500KG

 

聯系電話(TEL):0769-23029940(15220380598) 聯系人:林小姐

 

 

 

 

 

YR-C3T-T測量軟件介紹
1、自動測量功能:鼠標自動找直線、點選圓、框選圓區域自動圓、自動圓弧
2、手動CNC:在有夾具的情況下面可以進行半自動測量
3、光學測高功能
4、光學測量平面度
5、輔助對焦:幫助找到最清晰時候的Z位置 (輔助調焦提高測量精度)
6、圖片輸出:測量結果可以圖片的格式輸出 (相當于數碼相機功能)
7、形位公差:圓度,直線度,平行度,垂直度,同心度
8、設置公差:可設置產品的實際尺寸超出范圍,超出則以紅色背景警示
9、CCD矯正:矯正圖像畸變
10、輪廓跟蹤:通過軟件自動計算出工件的輪廓并顯示出來 (清晰顯示測量位置)
11、矢量繪圖功能:圖元字體可以無級的放大縮小
12、標注功能:半徑標注,直徑標注,角度標注,線性標注,對齊標注,文字標注,坐標標注
13、命令行:可以由命令行直接輸入坐標信息,生成點、直線、圓、圓弧等,滿足特殊需要
14、地圖測量:可把所拍的工件局部照片精密的整合成工件全圖,并保存為高像素的照片。還可打開以前所拍的地圖,直接進行繪圖、標注、修改等操作 (合成大圖片)
15、虛擬測量:虛擬測量技術使影像測量軟件可脫離硬件機臺。在沒有機臺和產品的情況下,軟件同樣可以測量產品的尺寸 (可以脫機測量)
16、二維抄數:可將產品外形描出,描出的圖形可轉入AutoCAD形成工程圖,可以做逆向工程
17、SPC分析:可以計算CA、CP、CPK、DRL、DRR、DR、MAX、MIN、AVG、RANGE、STD,并可以繪出X-R圖,散點圖,折線圖,柱狀圖等
18、可實現測量部分三維尺寸 (探針接觸式測量) 
 

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